プルーフテストについて
安全計装システムのレベルデバイス向けの実績あるソリューションで効率と安全性を向上
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プルーフテストは、安全ループ内に実装されたデバイスの機能をチェックするために実行され、国際安全規格に準拠していることが必須です。安全ループを設計するときには、デバイスの診断では特定されない障害である危険な未検出の障害（DU）を考慮する必要があります。定期的なプルーフテストは、安全ループの安全度レベルとデバイス故障の確率（PFD）に基づいています。デバイスが必要なSILを維持できるように、時間経過とともに増加するPFDは、包括的なプルーフテストを実行することにより、ほぼ元のレベルに下げることができます。低DUのデバイスの場合、これは部分的な実証テストでも達成できます。これらはリモートで実行でき、包括的テストよりもはるかに時間がかかりません。
プルーフテストは、IEC 61508で安全関連システムの危険な隠れた故障を検出するために実行される定期的なテストとして定義されています。これにより、必要に応じて、修理によりシステムを「新品同様」の状態、または可能な限り近い状態に復元できます。’.プルーフテストは、誰にも検出されない内蔵デバイスの故障を明らかにするために設計されています。これは、システムが安全ライフサイクル全体で、必要なSILを確実に達するために重要な、安全ライフサイクル上に重要なものです。
IEC 61511規格では、機能安全ライフサイクルを使用し:
IEC 61508は、製品の体系的な機能、アーキテクチャ上の制約、および故障の確率を評価する必要があることを示しています。 Exida などの独立サードパーティの試験企業は、対象のSILレベルに必要な3つの部分すべてをカバーする認定を提供できます。
オンデマンド障害の確率 (PFD)
必要なときにデバイスが安全機能を実行できないリスク。IEC 61511は、プルーフテストの間隔は、平均PFD (PFDavg)に基づいて計算されることを規定しています。 PFDavgの計算には、個々の故障率、診断カバレッジ、安全機能係数が使用されます。 個々の機器の値が低いほど、全体的な信頼性が向上します。
リスク低減因子 (RRF)
リスク低減因子（RRF）は、必要な故障確率の逆数です。たとえば、必要な故障確率0.001はRRFが1000に等しいため、1000年ごとに1つの危険な故障が発生します。
包括的プルーフテストでは、デバイスの3つの機能要素すべて（出力回路、測定電子機器、センシング要素）を検証します。部分的なプルーフテストでは、そのうちの1つまたは2つを検証します。デバイスに内部的な問題がないことを確認するために部分的なプルーフテストが実行され、デバイスのPFDを元のレベルのパーセンテージに戻し、指定されたSIL要件を満たしていることを確認します。
3つの機能要素すべてをカバーする部分的なプルーフテストの組み合わせは、包括的プルーフテストと見なされます。
測定データに加えて、最新レベルのデバイスは診断機能へのアクセスを提供し、遠隔プルーフテストをサポートします。障害はリアルタイムで識別できます。診断カバレッジ（DC）は、危険な障害を検出するデバイスの機能を表します。プルーフテストのカバレッジは、デバイス診断では特定されず、プルーフテストで検出できる、検出されていない危険な障害数の測定値です。これは、プルーフテストカバレッジ（PTC）係数として定義され、可能な限り高いパーセンテージ（完全なテストでは理想的には100％）である必要があります。
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