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高品質の腐食データを使用して、エチレン施設と脱エタン塔の状況を詳細に分析します
脱エタン装置のオーバーヘッドは、アミンカラムの混乱の結果としてプロセス内に残留するH2Sの影響を受ける可能性があり、オーバーヘッドコンデンサーと還流ラインに局所的な腐食攻撃を引き起こす可能性があります。 ワイヤレス腐食監視システムから配信される高品質の腐食データを使用することで、施設の継続的な運用への影響を最小限に抑えながらメンテナンスを実施する時期をより適切に計画できます。